2024年度 第1 回プライベートセミナー開催について
当機構第２部会主催の、会員限定「プライベートセミナー」を下記日程にて開催いたしますので、ご案内申し上げます。
| 日 時 |
2024年7月3日(水) 14:30～17:00 終了後、45分の交流会を予定しています。 |
| 会 場 |
下記のいづれか ・会場（Vislab OSAKA（グランフロント大阪））にて聴講 ・オンラインにて聴講（WebEx使用） (※) 講師には会場にて講演いただきます。 |
| テーマ | 非破壊検査 |
| タイトル |
検査効率化のための先進X線非破壊検査技術
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| 概 要 |
X線非破壊検査は、肉眼では見ることができない部分を見て検査できる方法として広く利用されている。 産業技術総合研究所では、X線による各種非破壊検査を効率的にかつ安全に行うためにさまざまな技術開発を行っている。 講演では、現場での検査に適した小型X線源や高感度X線検出器とそれを利用した検査システム、自動測定のためのロボット利用、撮影データの３次元解析と表示技術、安全確保のための線量モニタリングなどの最新の研究成果について報告する。 |
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| 講 師 |
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 分析計測標準研究部門 首席研究員 鈴木 良一 氏 |
| プログラム |
14：30～17：00 講演、休憩、懇談会（講師と質疑応答を含むディスカッション） 17：00～17：45 交流会（会場にて軽食、ドリンクをご準備し、講師、他の参加者との名刺交換、フリートーク） |
| お願い |
オンラインで聴講される方： ・WebExを使用します。参加方法など詳細は追って連絡します。 ・出欠をスムーズにとるために、申込み画面にてWebExの表示名を記載ください。 |
| 申込み方法 |
こちらよりお申し込みください。
（会員限定： 会場定員24名） ※先着順 会場での参加をご希望された場合でもオンライン参加をお願いする場合がございます。 |
| 申込み締切り | 2024年6月26日(水) |
お問合せ
組込みシステム産業振興機構 事務局
事務局 吉川・高倉
TEL：072-751-9951
E-mail：